търсене на книга
книги
Направете дарение
Впиши се
Впиши се
оторизираните потребители имат достъп до:
лични препоръки
Телеграм бот
хронология на изтеглянията
изпрати до Email или Kindle
управление на колекцията
запазване в любими
Лично
Заявки за книги
Изучаване
Z-Recommend
Списъци с книги
Най-популярни
Категории
Участие
Направете дарение
Качвания
Litera Library
Дарете хартиени книги
Добавяне на хартиени книги
Search paper books
Моят LITERA Point
Търсене на термини
Main
Търсене на термини
search
1
Transient-Induced Latchup in CMOS Integrated Circuits
John Wiley & Sons
Ming-Dou Ker
,
Sheng-Fu Hsu
latchup
tlu
esd
voltage
figure
current
circuits
cmos
vdd
transient
trigger
guard
layout
internal
shown
ics
scr
circuit
device
positive
induced
negative
clamp
rail
nmos
measured
integrated
substrate
measurement
rings
immunity
idd
pmos
spacing
reprinted
bipolar
prevention
devices
width
noise
setup
dfreq
discharge
resistance
anode
diode
vcharge
eft
feedback
dfactor
Език:
english
Файл:
PDF, 8.75 MB
Вашите тагове:
0
/
0
english
2
Transient-Induced Latchup in CMOS Integrated Circuits
Wiley-IEEE Press
Ming?Dou Ker
,
Sheng?Fu Hsu(auth.)
latchup
tlu
esd
voltage
figure
current
circuits
cmos
vdd
transient
trigger
guard
layout
internal
shown
ics
scr
circuit
device
positive
induced
negative
clamp
rail
nmos
measured
integrated
substrate
measurement
rings
immunity
idd
pmos
spacing
reprinted
bipolar
prevention
devices
width
noise
setup
dfreq
discharge
resistance
anode
diode
vcharge
eft
feedback
dfactor
Година:
2009
Език:
english
Файл:
PDF, 37.56 MB
Вашите тагове:
0
/
0
english, 2009
3
Transient-Induced Latchup in CMOS Integrated Circuits
Wiley-IEEE Press
Ming-Dou Ker
,
Sheng-Fu Hsu
latchup
tlu
voltage
esd
figure
current
cmos
circuits
vdd
μm
trigger
guard
transient
layout
internal
shown
ics
scr
circuit
device
positive
negative
clamp
nmos
rail
measured
rings
substrate
measurement
immunity
idd
induced
pmos
reprinted
3.3v
spacing
bipolar
devices
dfreq
setup
noise
width
integrated
resistance
discharge
anode
vcharge
diode
prevention
1.8v
Година:
2009
Език:
english
Файл:
PDF, 12.72 MB
Вашите тагове:
0
/
0
english, 2009
4
Transient-Induced Latchup in CMOS Integrated Circuits
Wiley-IEEE Press
Ming-Dou Ker
,
Sheng-Fu Hsu
latchup
tlu
voltage
esd
figure
current
cmos
circuits
vdd
μm
trigger
guard
transient
layout
internal
shown
ics
scr
circuit
device
positive
negative
clamp
nmos
rail
measured
rings
substrate
measurement
immunity
idd
induced
pmos
reprinted
3.3v
spacing
bipolar
devices
dfreq
setup
noise
width
integrated
resistance
discharge
anode
vcharge
diode
prevention
1.8v
Година:
2009
Език:
english
Файл:
PDF, 12.95 MB
Вашите тагове:
0
/
0
english, 2009
1
Следвайте
тази връзка
или потърсете бот „@BotFather“ в Telegram
2
Изпратете команда /newbot
3
Въведете име за вашия бот
4
Въведете потребителско име за бота
5
Копирайте последното съобщение от BotFather и го поставете тук
×
×